UV装置 8.6世代(G8.6)
紫外線(UV)を用い、基板表面の有機物を除去する為の装置です。 特長
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自社製UVランプ
IR装置
赤外線(IR)を用い、基盤表面の脱水を行います。 特長
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温度特性
下のグラフはIRでの基板表面温度変化をグラフ化したものです。
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HMDS装置
モリブデン系やシリコン系膜において、レジスト膜と基盤との密着性を向上させる装置です。
特長
- 素ガラス上で基板接触角θ≧55°が可能です。
- 素ガラス上で接触角均一性 Min/Max≧75%です。
- 各種安全対策を施しております。
防爆、薬剤漏洩防止、静電気防止、廃液容器の専用化等
VD装置
レジスト塗布後のガラス基板を減圧状態にして乾燥を促進させるための装置です。 特長
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HP・CP装置 10.5世代(G10.5)
多段式HP-CP装置 |
ガラス基板表面をホットプレート(HP)にて加熱させ、コールドプレート(CP)により冷却を行う装置です。 (第10.5世代まで製作実績が有ります。) 基本仕様 基盤表面温度にてHP加熱: 150±3.0℃(脱水ベーク) 120±2.5℃(プリベーク) CP冷却: 23±1.0℃ |
特長
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温度特性
下のグラフはHP-CPでの基板表面温度変化をグラフ化したものです。
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PCP装置
ガラス基板表面をコールドプレート(PCP)で冷却する装置です。 (第10.5世代まで製作実績が有ります。) 特長
基本仕様 基板表面温度にて23±2.0℃→23±0.2℃ |
UV・O3-ASH装置
ガラス基板のレジスト残渣を除去する装置です。
特長
- IRヒーターを用いて基板を加熱し、外部からオゾンを導入する事によって洗浄効果を上げています。
- 外部導入オゾンは均一に供給されます。オゾン濃度はオゾンモニタにより監視が可能です。